CEDE - Instrumentos de medición, diagnóstico, análisis y prueba

Módulos de PC para Diagnóstico de Tarjetas Electrónicas

Módulos SYSTEM 8.
La solución perfecta para todas sus necesidades de prueba...

Modulos SYSTEM 8 - Montados en bahías libres de CD/DVD en una PC y el software que los controla

La gama de instrumentos SYSTEM 8 está constituida de módulos que pueden ser combinados para adaptarse a una amplia variedad de aplicaciones de prueba.


Los módulos requieren un PC y el software “System8 Premier” para ser controlados y se pueden montar en una bahía libre de CD/DVD mediante una interfaz PCI universal.
Adicionalmente los módulos pueden instalarse en una caja externa con una interfaz USB.


Los módulos disponibles son:

Módulo BFL (Board Fault Locator)
Localización de Fallas en Tarjetas

Módulo BFL - Localización de Fallas en Tarjetas

Se trata de un sistema básico, diseñado para pruebas de Circuitos Integrados (CIs) digitales.


Con 64 canales de prueba, ofrece capacidades de diagnóstico completo de fallas. También incluye pruebas funcionales de Circuitos Integrados digitales (Dentro del circuito y Fuera del circuito), estado de las conexiones de CIs y adquisición de voltaje junto con una función de curva V-I que permite realizar pruebas de componentes sin necesidad de aplicar alimentación a la tarjeta.


Hasta 4 módulos pueden interconectarse para ofrecer 256 canales de prueba.

Módulo AICT (Analogue IC Tester)
Probador de Circuitos Integrados Analógicos

Módulo AICT - Probador de Circuitos Integrados Analógicos

El probador de CIs analógicos permite hacer pruebas funcionales dentro del circuito (pruebas in-circuit) de circuitos integrados analógicos y componentes discretos.


Todos los dispositivos análogos comunes pueden ser probados mientras están siendo configurados en la tarjeta de circuitos impresos (PCB) sin necesidad de programación o de referirse a los diagramas de circuito.


El AICT también incluye un probador V-I completo y configurable para la detección de fallas en tarjetas sin alimentación mediante resultados gráficos claros y fáciles de entender.

Módulo ATS (Analogue Test Station)
Estación Analógica de Pruebas

Medición de las caracteristicas electricas de cada pin de un componente

Para los usuarios que requieren la identificación y prueba de dispositivos analógicos pero que no necesitan hacer pruebas funcionales, el módulo ATS es una opción rentable y efectiva. Es un probador V-I analógico.


El módulo Estación Analógica de Pruebas ofrece 24 canales más 2 canales discretos para circuitos integrados y componentes discretos. Para pruebas avanzadas también dispone de salidas de pulso y el modo Matrix.

Módulo MIS (Multiple Instrument Station)
Estación de Instrumentos Múltiple

Módulo MIS - Estación de Instrumentos Múltiple

La estación de instrumentos múltiple proporciona un sistema completo de instrumentación tradicional configurable.


Con un total de 8 instrumentos de prueba y medición de alto rendimiento en un solo módulo compacto es ideal para el diseño, la educación o para uso general en mesa de laboratorio y de trabajo.


El modulo MIS está compuesto de un Osciloscopio digital (DSO) de 2 canales, 100MHz; un Multímetro Digital; un Generador de Funciones 10MHz; 2 Fuentes de Poder Auxiliares; Contador de Frecuencia y Entradas/Salidas (Universal I/O) Cuádruples Analógicas y Digitales.


Para hacer más eficaz su utilización, los instrumentos estándar se pueden personalizar o se pueden diseñar nuevos instrumentos para aplicaciones específicas.

La gama de Instrumentos SYSTEM 8

• Pruebas a nivel de Tarjeta o de Componentes.
• Pruebas funcionales digitales y analógicas.
• Pruebas power-on y power off.
• Mediciones de un solo punto.
• Procedimientos de prueba automatizados.
• Software Configurable.
• Prestaciones para la gestión de Control de Calidad.
• Instrumentos personalizados.


La gama de instrumentos SYSTEM 8 de ABI Electronics para medición, detección de fallos y prueba de componentes proporciona capacidades sin rival.

Ya sea que se dedique a la verificación de diseños electrónicos, pruebas de producción, pruebas de dispositivo de semiconductores, reparación de productos o mantenimiento, y si sus tarjetas son analógicas, digitales o ambas; los equipos de la gama SYSTEM 8 le proporcionan lo último en herramientas de diagnóstico electrónico.

Módulo VPS (Variable Power Supply)
Fuente de Poder Variable

Módulo VPS - Fuente de Poder Variable

El módulo Fuente de poder Variable proporciona el voltaje necesario a la unidad bajo prueba.


Sus tres salidas son variables en el voltaje y ofrecen protección contra sobretensión o limitación de corriente. Se controla completamente mediante el software System8 Premier.

Combinaciones de módulos Populares

Combo Diagnostic Solution
(módulo BFL + AICT)

Módulo BFL + AICT - Combo Diagnostic Solution

El combo SYSTEM 8 diagnostic solution incluye el módulo de localización de Fallas en Tarjetas (BFL) y el módulo de Prueba de Circuitos Integrados Analógico (AICT). Es la respuesta para abordar los problemas de búsqueda de fallos en tarjetas electrónicas (PCBs).


Tanto para tarjetas analógicas o digitales, los 64 canales analógicos y 24 digitales de prueba de los equipos de este sistema ofrecen una variedad de técnicas de detección de fallos para rastrear las fallas más difíciles.


La Prueba funcional de CIs dentro del circuito es el corazón del sistema: busca en un circuito integrado y comprueba que funciona correctamente; busca fuera del CI y confirma que está conectado correctamente.


Utilice el probador analógico V-I, con pruebas seleccionables de frecuencias, impedancia y tensión, para verificar componentes analógicos. Compare los resultados con una tarjeta conocida en buen estado, automatice los procedimientos de búsqueda de fallos con el generador de secuencias de prueba (TestFlow).


Con todas estas herramientas ¡el diagnóstico de fallas se convierte en algo verdaderamente fácil!

Combo Diagnostic Solution PLUS
(módulo BFL + AICT + VPS)

Módulo BFL + AICT + VPS - Combo Diagnostic Solution PLUS

Agregue a el combo SYSTEM 8 Diagnostic Solution una Fuente de Poder Programable Triple (módulo VPS) para las pruebas de diagnóstico y usted obtiene el combo Diagnostic Solution PLUS.


Esto proporciona el voltaje necesario para alimentar la unidad bajo prueba mediante tres salidas variables: 2.5~6VCD, 5A / 0~24VCD, 1.5A y -24~0VCD, 1.5A

Módulos de PC para Diagnóstico de Tarjetas Electrónicas

ABI SYSTEM 8 ATM 128

ABI SYSTEM 8 ATM 128

Módulo Avanzado de Prueba y Diagnóstico de Tarjetas Electrónicas, 128 Canales

Cotizar

Módulo Avanzado de 128 canales para Prueba y Diagnostico de Tarjetas Electrónicas para montar en una ranura CD-ROM de PC o en caja externa. Modelo ABI Electronics 623365 (SYSTEM 8)

ABI SYSTEM 8 ATM

ABI SYSTEM 8 ATM

Módulo Avanzado de Prueba y Diagnóstico de Tarjetas Electrónicas, 64 Canales

Cotizar

Módulo Avanzado de 64 Canales para Prueba y Diagnostico de Tarjetas Electrónicas para montar en una ranura CD-ROM de PC o en caja externa. Modelo ABI Electronics 623364 (SYSTEM 8)

ABI SYSTEM 8 BFL 128

ABI SYSTEM 8 BFL 128

Módulo Localizador de Fallas en Tarjetas Electrónicas, 128 Canales

Cotizar

Módulo de 128 Canales Localizador de Fallas en Tarjetas Electrónicas para montar en una ranura CD-ROM de PC o en caja externa. Modelo ABI Electronics 613064 (SYSTEM 8)

ABI SYSTEM 8 BFL

ABI SYSTEM 8 BFL

Módulo Localizador de Fallas en Tarjetas Electrónicas, 64 Canales

Cotizar

Módulo Avanzado de 64 Canales para Prueba y Diagnostico de Tarjetas Electrónicas para montar en una ranura CD-ROM de PC o en caja externa. Modelo ABI Electronics 623364 (SYSTEM 8)

ABI SYSTEM 8 AICT

ABI SYSTEM 8 AICT

Módulo Probador de Circuitos Integrados Analógicos

Cotizar

Módulo Probador de CIs Analógicos (Pruebas Funcionales y V-I ) para montar en una ranura CD-ROM de PC o caja externa. Modelo ABI Electronics 600017 (SYSTEM 8)

ABI SYSTEM 8 ATS

ABI SYSTEM 8 ATS

Estación de Pruebas Analógicas

Cotizar

Estación de Pruebas Analógicas (Pruebas V-I ) para montar en una ranura CD-ROM de PC o caja externa. Modelo ABI Electronics 600016 (SYSTEM 8)

ABI SYSTEM 8 MIS

ABI SYSTEM 8 MIS

Estación de Instrumentos Múltiple

Cotizar

Módulo con 8 Instrumentos de Prueba y Medición para montar en una ranura CD-ROM de PC o caja externa. Modelo ABI Electronics 601010 (SYSTEM 8)

ABI SYSTEM 8 VPS

ABI SYSTEM 8 VPS

Módulo Fuente de Poder Variable Triple 150W

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Módulo con Fuente de Poder Variable Triple para montar en caja externa. Modelo ABI Electronics 610030 (SYSTEM 8)

ABI SYSTEM-8-AMS-32

ABI SYSTEM-8-AMS-32

Módulo de escaneo matricial 32 canales

Cotizar

El Escáner Matricial Avanzado (AMS) es la última creación de la línea SYSTEM 8 y ofrece características nuevas y únicas para el diagnóstico y las pruebas de componentes sin alimentación. Modelo ABI Electronics 600018 (SYSTEM 8 AMS).

ABI SYSTEM-8-AMS-64

ABI SYSTEM-8-AMS-64

Módulo de escaneo matricial 64 canales

Cotizar

El Escáner Matricial Avanzado (AMS) es la última creación de la línea SYSTEM 8 y ofrece características nuevas y únicas para el diagnóstico y las pruebas de componentes sin alimentación; el AMS con sus 64 canales acelera la toma de datos y las pruebas en dispositivos con gran cantidad de pines asi como las PCBs. Modelo ABI Electronics 600019 (SYSTEM 8 AMS).

128
Canales, A=Analógicos; D=Digitales; RF=RadioFrecuencia; *=Aislados
USB ó PCI
Tipo(s) de comunicación
2
Número de modulos
ATM (pruebas avanzadas)
Tipo
64
Canales, A=Analógicos; D=Digitales; RF=RadioFrecuencia; *=Aislados
USB ó PCI
Tipo(s) de comunicación
1
Número de modulos
ATM (pruebas avanzadas)
Tipo
128
Canales, A=Analógicos; D=Digitales; RF=RadioFrecuencia; *=Aislados
USB ó PCI
Tipo(s) de comunicación
2
Número de modulos
BFL (localizador de fallas)
Tipo
64
Canales, A=Analógicos; D=Digitales; RF=RadioFrecuencia; *=Aislados
USB ó PCI
Tipo(s) de comunicación
1
Número de modulos
BFL (localizador de fallas)
Tipo
24
Canales, A=Analógicos; D=Digitales; RF=RadioFrecuencia; *=Aislados
USB ó PCI
Tipo(s) de comunicación
1
Número de modulos
AICT (pruebas funcionales CIs analógicos)
Tipo
24
Canales, A=Analógicos; D=Digitales; RF=RadioFrecuencia; *=Aislados
USB ó PCI
Tipo(s) de comunicación
1
Número de modulos
ATS (pruebas CIs analógicos y digitales)
Tipo
 
Canales, A=Analógicos; D=Digitales; RF=RadioFrecuencia; *=Aislados
USB ó PCI
Tipo(s) de comunicación
1
Número de modulos
MIS (instrumentos múltiples)
Tipo
 
Canales, A=Analógicos; D=Digitales; RF=RadioFrecuencia; *=Aislados
USB
Tipo(s) de comunicación
1
Número de modulos
VPS (fuente de poder triple)
Tipo
32
Canales, A=Analógicos; D=Digitales; RF=RadioFrecuencia; *=Aislados
USB ó PCI
Tipo(s) de comunicación
1
Número de modulos
AMS (Escáner Matricial Avanzado)
Tipo
64
Canales, A=Analógicos; D=Digitales; RF=RadioFrecuencia; *=Aislados
USB ó PCI
Tipo(s) de comunicación
1
Número de modulos
AMS (Escáner Matricial Avanzado)
Tipo
Hacienda la Muralla #136, CP. 76180
Jardines de la Hacienda. Querétaro, México.
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