CEDE - Instrumentos de Medición, Diagnostico, Análisis y Prueba
Cotizador
0

Probadores de error de bits Tektronix

Tektronix BSA260C

Probador de errores de bits 26 GHz

Nuevo
Descontinuado

¿Dudas?

Descripción
Probador de errores de bits de 26 GHz, velocidad de datos: 26 Gb/s, profundidad de datos total de 128 Mb y ancho de pulso de 23 ps; tiene conexiones: RS232/GPIB/LAN/USB/VGA, tipo de pantalla Color/Touch. Modelo Tektronix BSA260C
Código: BSA260C
SKU: TEK1192
Características
Probador de errores de bits 26 GHz - Tektronix BSA260C
  • » Pattern Generation and Error Analysis, High-speed BER Measurements up to 26 Gb/s
  • » Integrated, Calibrated Stress Generation to Address the Stressed Receiver Sensitivity and Clock Recovery Jitter Tolerance Test Requirements for a Wide Range of Standards
  • » Sinusoidal Jitter to 100 MHz
  • » Random Jitter
  • » Bounded, Uncorrelated Jitter
  • » Sinusoidal Interference
  • » Spread Spectrum Clocking
  • » PCIe 2,0 Receiver Testing
  • » F/2 Jitter Generation for 8xFC and 10GBASE-KR Testing
  • » Electrical Stressed Eye Testing for:
  • » PCI Express
  • » 10/40/100 Gb Ethernet
  • » SFP+/SFI
  • » XFP/XFI
  • » OIF/CEI
  • » Fibre Channel
  • » SATA
  • » USB 3,0
  • » Jitter Tolerance Compliance Template Testing with Margin Testing
  • » Fast Input Rise Time / High Input Bandwidth Error Detector for Accurate Signal Integrity Analysis
  • » Physical Layer Test Suite with Mask Testing, Jitter Peak, BER Contour, and Q-factor Analysis for Comprehensive Testing with Standard or User-defined Libraries of Jitter Tolerance Templates
  • » Integrated Eye Diagram Analysis with BER Correlation
  • » Optional Jitter Map Comprehensive Jitter Decomposition – with Long Pattern (ie PRBS-31) Jitter Triangulation to Extend BER-based Jitter Decomposition Beyond the Limitations of Dual Dirac TJ, DJ, and RJ for a Comprehensive Breakdown of Jitter Subcomponents
  • » Patented Error Location Analysis™ enables Rapid Understanding of your BER Performance Limitations and Assess Deterministic versus Random Errors, Perform Detailed Pattern-dependent Error Analysis, Perform Error Burst Analysis, or Error-free Interval Analysis
Qué Incluye:
Hacienda la Muralla #136, CP. 76180
Jardines de la Hacienda. Querétaro, México.
®️ CEDE 2025  |  Actualizado: 2025-06-21 |  www.cedesa.com.mx
442 212 20 12
• Precios en Dólares Americanos (USD) sujetos al tipo de cambio publicado en cedesa.com.mx/tc el día de pago . No incluyen el 16% de Impuesto al Valor Agregado (IVA).
• Aunque el contenido de este sitio web ha sido cuidadosamente revisado y actualizado, las especificaciones, disponibilidad de productos y precios aquí mostrados pueden cambiar sin previo aviso.
• Todas las marcas, fotografías y diseños son propiedad de sus respectivos autores.
• Estamos comprometidos con el uso responsable de la información, consulte nuestra Política de Privacidad.
Si tiene algún comentario acerca de este sitio y su contenido comuníquese con nuestro departamento de desarrollo web.
• (*)La disponibilidad es salvo previa venta. Favor de confirmar existencias y tiempos de entrega.
• Todos los certificados de calibración incluidos de fábrica en los equipos que así lo indiquen tienen como finalidad mostrar que el equipo está dentro de los parámetros de medida especificados, no son un servició de certificación “en si”.
Al momento de ser surtido un instrumento que incluye certificado de calibración de fábrica estos certificados pueden tener menos de un año de vigencia o incluso estar caducos debido a los tiempos de almacenamiento y distribución. Esto no demerita el objetivo original para lo que el documento fue incluido en el equipo ni obliga a los fabricantes o al distribuidor a suministrar un nuevo certificado en caso de que el incluido en el equipo surtido este caduco.
Si requiere certificados con vigencia de un año, con datos de los parámetros calibrados y emitidos con información personalizada de su empresa, así como con trazabilidad a patrones nacionales del CENAM (México) y acreditación EMA, debe solicitarlos como un servicio con costo y por separado.